Core
增加了不鍍膜基底橢偏數(shù)據(jù)的光學常數(shù)提取，為了能使用橢偏數(shù)據(jù)，從Macleod Tools菜單欄中選擇Substrate n, k & T并選擇 Ellipsometer按鈕。
現(xiàn)在可以在help下選擇user manual直接打開Macleod英文手冊
反演工程現(xiàn)在支持基底雙邊鍍膜的情況。
反演工程現(xiàn)在可以在標題欄顯示優(yōu)化器。對于Simplex, 會顯示“<S>” ；對于Differential Evolution會顯示 “<DE>”
如果基底的內透過率數(shù)據(jù)不全是lossess, 反演工程現(xiàn)在需要基底的材料文件。
優(yōu)化目標增加了平均值的計算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。
用戶自定義的功率分布添加到了cone計算里面，此分布可選定reference文件（作為角度的函數(shù)）。
當有新數(shù)據(jù)導入到光學常數(shù)工具中，它會清理已經(jīng)計算的結果。
在注冊菜單中增加了email按鈕，授權表格可以非常容易的創(chuàng)建key請求。
Design中的薄層膜(非厚層膜)增加了Back Reflectance顏色分析功能。
Runsheet
“Monitor Type”現(xiàn)在包含在 NVision導出中， NVision 光學監(jiān)控器可以預先選擇監(jiān)控類型。
Function
雙加腳本編輯器的文件將會制作該腳本。
如果您遇到任何問題，可通過如下方式聯(lián)系我們。
訊技光電科技（上海）有限公司
電話：86-21-64860708
傳真：86-21-64860709
課程：course@infotek.com.cn
業(yè)務：sales@infotek.com.cn
技術：support@infotek.com.cn
|
