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干涉條紋研究

時間:2019-04-22 09:38來源:訊技光電作者: 技術(shù)部點擊:次打印

干涉測量是用于精確測量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過觀察和研究條紋圖案，可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場追跡技術(shù)，可以輕松地設(shè)置和分析光學干涉儀。在這里提出兩個經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子：一個高質(zhì)量相干激光光源，另一個寬帶白光光源。

基于激光的邁克爾遜干涉儀

借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀，并展示了不同配置中的干涉條紋。

白光邁克爾遜干涉儀

模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀，充分考慮了光源的光譜特性（有限的相干長度）。

了解更多信息，請發(fā)送郵件至：support@infotek.com.cn / support@infocrops.com

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