主辦單位：中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、訊技光電科技（上海）有限公司
培訓(xùn)時間：2010年11月22日（二）-26日（一）
培訓(xùn)地點(diǎn)：中科院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所（上海市嘉定區(qū)清河路390號）
課程對象：光電企業(yè)鍍膜工程師、高校及研究所薄膜專業(yè)研究人員等
培訓(xùn)證書：由中國科學(xué)院和上海光機(jī)所共同蓋章認(rèn)證
學(xué) 費(fèi)： 2803元/人，學(xué)生憑有效證件2603元/人，
（9月1日前繳費(fèi)2503元，學(xué)生憑有效證件2303元/人）
聯(lián)系方式：吳先生 021-64511038 64401131 jeffrey@infotek.com.cn
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主要課程介紹：
基本原理、設(shè)計(jì)方法與軟件應(yīng)用 主講：范正修 齊紅基 研究員
課程涵蓋光學(xué)薄膜基礎(chǔ)理論、光學(xué)薄膜膜系設(shè)計(jì)與優(yōu)化方法。培訓(xùn)期間每人會安裝一套正版Essential Macleod薄膜設(shè)計(jì)軟，針對實(shí)例，演示完整的光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)與分析過程。
光學(xué)薄膜沉積技術(shù)與工藝方法 主講：易葵 正高級工程師
給出光學(xué)薄膜制備完整的工藝流程，結(jié)合沉積技術(shù)對最終薄膜性能的影響，實(shí)例講解系統(tǒng)配置、沉積技術(shù)以及工藝參數(shù)的選擇、調(diào)控與優(yōu)化。
光學(xué)薄膜測試技術(shù)與測試結(jié)果的解讀 主講：賀洪波 研究員
介紹光學(xué)薄膜的光譜、損耗、激光損傷、力學(xué)以及微結(jié)構(gòu)等多角度的測試技術(shù)與相關(guān)設(shè)備裝置；結(jié)合光學(xué)薄膜測試實(shí)踐，講解測試結(jié)果的分析與應(yīng)用。
特色：
培訓(xùn)期間將邀請同濟(jì)大學(xué)、中科院光電所、西南技術(shù)物理所、上海技物所以及長春光機(jī)所等單位的專家作為客座講師，安排為期一天的專題報告
講師介紹：
范正修 齊紅基 研究員--------基本原理、設(shè)計(jì)方法與軟件應(yīng)用
課程涵蓋光學(xué)薄膜基礎(chǔ)理論、光學(xué)薄膜膜系設(shè)計(jì)與優(yōu)化方法。
培訓(xùn)期間每人會安裝一套正版Essential Macleod薄膜設(shè)計(jì)軟，針對實(shí)例，演示完整的光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)與分析過程。
易葵 正高級工程師--------光學(xué)薄膜沉積技術(shù)與工藝方法
給出光學(xué)薄膜制備完整的工藝流程，結(jié)合沉積技術(shù)對最終薄膜性能的影響，實(shí)例講解系統(tǒng)配置、
沉積技術(shù)以及工藝參數(shù)的選擇、調(diào)控與優(yōu)化。
賀洪波 研究員--------光學(xué)薄膜測試技術(shù)與測試結(jié)果的解讀
介紹光學(xué)薄膜的光譜、損耗、激光損傷、力學(xué)以及微結(jié)構(gòu)等多角度的測試技術(shù)與相關(guān)設(shè)備裝置；
結(jié)合光學(xué)薄膜測試實(shí)踐，講解測試結(jié)果的分析與應(yīng)用。
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