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該文檔描述利用FRED腳本編程語言一次對一組表面應(yīng)用“重要性采樣定義”（importance sampling specifications）的一種方法。 與光源、表面、鍍膜、材料、散射模型、ARN和raytrace控制設(shè)置不同， 散射的“重要性采樣定義”在Fred 的目標(biāo)樹上沒有參考節(jié)點。通常情況下，用戶可能會通過拖拉（drag and drop）的方式，把一個光學(xué)表面特性施加到一組光學(xué)表面，而散射“重要性采樣定義”因沒有目標(biāo)樹上的節(jié)點位置，無法用“拖拉”的方式進行表面特性定義，它通過利用腳本編程語言來實現(xiàn)這一功能。

 http://fred-kb.photonengr.com/files/2010/12/setImportanceSampling.frd

 Applying Importance Sampling Specifications in Script