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用于光學相干斷層掃描技術的邁克爾遜干涉儀

時間:2017-09-12 11:42來源:訊技光電作者: 技術部點擊:次打印

光學測量 > 干涉測量

任務/系統(tǒng)說明

亮點

•從光線追跡分析到快速物理光學建模的簡單轉(zhuǎn)換；

•對相干效應以及干涉圖樣的高速仿真；

具體要求：光源

具體要求：用于準直的消色差透鏡

具體要求：分束器

具體要求：參考光路反射鏡

具體要求：測試光路反射鏡

具體要求：探測器

結(jié)果：3D光線追跡

結(jié)果：場追跡

結(jié)果：移動樣品的場追跡結(jié)果

通過掃描樣品的軸向位置，可以研究出樣品的形貌。

文件&技術信息

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